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| 大口径元件吸收缺陷检测仪 | |
| 型号 | PTM-2000-LA |
| 检测灵敏度 | ≤10ppb |
| 检测波长 | 355nm、532nm、1064nm或定制波长 |
| 空间分辨率 | ≤10um |
| 样品尺寸 | ≤500mm x 500mm ( L x W )或客户订制 |
| 光学显微成像系统分辨率（可选配） | ≤1um |
*注：可根据用户需求提供同类特制仪器和相关测试的解决方案。
大口径元件吸收缺陷检测仪(PTM-2000-LA)，基于光热扫描显微成像技术，适用于各类大口径固体表面及亚表面缺陷的检测和分析，特别是各类大口径光学薄膜、光学元器件表面及亚表面吸收缺陷的检测和分析。本系统是一款非接触式、高分辨率、全自动化检测仪器，可根据用户具体需求进行紫外、可见或红外波段的精密检测和分析。
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