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电子束光刻机品牌
安徽泽攸产地
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泽攸科技ZEL304G电子束光刻机(EBL)采用场发射电子枪,配合一体化的高速图形发生系统实现对半导体晶圆的高速、高分辨光刻。该系统标配高精度激光干涉样品台,允许用户实现大行程高精度拼接和套刻需求,在新材料、前沿物理研究、半导体、微电子、光子、量子研究领域发挥重要作用。
产品特色
▲ 激光干涉样品台:先进的激光干涉样品台,满足大行程高精度拼接和套刻需求
▲ 场发射电子枪:高分辨场发射电子枪是光刻质量的重要保证
▲ 图形发生器:在保证超高速扫描的同时实现超高分辨率图案绘制
样品台指标
▲ 标配:激光干涉样品台
▲ 样品台行程:≥105 mm
▲ 拼接精度:优于50nm(平均值+ 1σ)
▲ 套刻精度:优于50nm(平均值+ 1σ)
电子枪及成像指标
▲ 肖特基场发射电子枪:加速电压20V~30kV;旁侧二次电子探测器和镜筒内电子探测器
▲ 图像分辨率:≤1 nm @ 15 kV;≤1.5 nm @ 1 kV
▲ 束流密度:> 7000A/cm2;电子束流≥100nA
▲ *小束斑尺寸:≤2nm
光刻指标
▲ 电子束闸:上升沿<100ns
▲ 写视场:≥500×500 um
▲ *小单次曝光线宽:<15nm(同时取决于工艺条件)
▲ 扫描速度:≥20MHz
图形发生器参数
▲ 控制核心:高性能FPGA
▲ 停留时间*小增量:10ns
▲ **扫描速度:50MHz
▲ 图形文件格式:GDSII、DXF、BMP等
▲ D/A分辨率:20位
▲ 法拉第杯束流测量:包含
▲ 支持的写场大小:50um~500um
▲ 临近效应校正:可选项
▲ 束闸支持:5V TTL
▲ 激光干涉位移台:可选项
▲ 扫描方式:顺序扫描(Z型)、循环扫描(S型)、螺旋型扫描等多种矢量扫描模式
▲ 曝光模式:支持场校准、场拼接,支持套刻,支持多图层自动曝光
▲ 外接通道支持:支持电子束扫描、工件台移动、束闸通断、二次电子检测
选配附件
▲ 配套UPS不间断电源
▲ 配套主动减震台,*低自然频率2Hz
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