测量范围：
1ppm-99.99%(元素不同有效分析浓度范围不同)误差率：
-分辨率：
135eV+5eV重现性：
-分散方式：
-测量时间：
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FEDX-M810型X荧光分析仪采用先进版Super-SDD/SI-PIN探测器，用于金属冶炼、金属合金、地质矿产、环境环保、新材料、电子电器等行业产品成分分析，是一款结构紧凑型台式分析系统。
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