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| 是一款**的高灵敏度分光光度计,可进行深紫外区检测,具备大样品室,可满足光学、半导体及FPD在以下方面的检测需求。 | 
	FPD:
	材料评估中NIR和大样品的高灵敏度测定。
	半导体:
	短波长激光和12英寸晶片整体表面的深紫外区测定。
	光通信: 
	减反射膜NIR高灵敏度测定。
	光学:
	从DUV到NIR再到大样品的高灵敏度分析。
	高灵敏度
	SolidSpec-3700和3700DUV是**台使用3个检测器的分光光度计:光电倍增管(PMT)探测器检测紫外区和可见光区,近红外区使用InGaAs 和 PbS检测器。InGaAs 和 PbS检测器的使用使得近红外区域的灵敏度显著增强。
	深紫外区检测
	SolidSpec-3700DUV具有检测深紫外区的能力,可测定至165nm或175nm的积分球。此检测是用氮气吹扫光室和样品室进行的。注: 165nm是SolidSpec-3700DUV使用直接受光单元DDU-DUV测定)的*短波长。
	大样品室
	大样品室(900W x 700D x 350H mm) 可在不损伤大样品的前提下进行检测。其垂直光路可直接测量大样品同时保持它们的水平状态。使用自动X-Y样品台(选配)测定样品的尺寸是12英寸或310×310mm。
	Direct Detection Unit DDU/DDU-DUV (for liquid/solid transmission measurements)直接受光单元DDU/DDU-DUV对于液、固样品透过率测定
	自动X-Y样品台(自动测量)
	大型镜面反射附件
	氮气流量装置
	**镜面反射附件(5°12°30°45°)
	积分球删除样品盘
SolidSpec-3700/3700DUV的UVProbe软件包括光谱模块,光度模块,动力学及报告模块等功能。多重的安全性及可追踪性以确保删除数据的可靠性。
高灵敏度
深紫外区检测
大样品室						
 
							岛津公司第七届质谱用户学术交流会第二轮通知 会议时间:2007年9月17日~19日 会议地点:成都市一环路西一段119号 千禧大酒店 总机:(028)66021666
 
							岛津公司第七届质谱用户学术交流会第一轮通知 为了促进岛津公司的用户之间、用户与厂家之间的交流,提高质谱仪的应用水平,研究开发新领域,岛津公司第七届质谱用户学术交流会定于2007年9月在四川省成都
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