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光谱型椭偏仪Ellipsometer图片
本图片来自上海载德半导体技术有限公司提供的光谱型椭偏仪Ellipsometer，型号为的光学仪器及设备，产地为德国，属于品牌，参考价格为面议，公司还可为用户供应高品质的光反射薄膜厚度测量仪、SKP5050扫描开尔文探针系统等产品。上海载德半导体技术有限公司是中国粉体网的会员，合作关系长达2年，工商信息已通过人工核验，获得粉享通诚信认证，请放心选择！
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