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CSU200 sic缺陷检测设备品牌
中科慧远产地
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csU200 sic缺陷检测设备
CSU200设备是中科慧远对SiC衬底及外延产品开发的缺陷检测设备。该设备通过显微成像系统和光致发光技术，实现对各类SiC晶片表面及晶体缺陷的检测和分类。该设备可适用于SiC衬底的来料检、出货终检，以及Sic外延的过程检和出货终检。
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