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核心参数

SOC410 VIS-IR便携式发射率和太阳能反射率仪

　　SOC410VIS-IR可见-红外发射率/反射率仪是为了替换经典的Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的，可测量包括13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335 nm至2500 nm，红外测量头测量范围为1.5μm至远红外。利用太阳辐照度函数或黑体函数，通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射，通过计算定向发射率推测半球总发射率。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接，该仪器可作为一个手持单元操作，一次完整的测量用时仅约10秒。该光谱仪还配备了NIST可溯源校准标样。

产品特点：

　　♦　在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率

　　♦　半球热辐射的预测

　　♦　测量太阳能吸收/反射

　　♦　在335至2500 nm光谱范围内，测量总辐射、镜面反射和漫反射能量

　　♦　可测量光谱范围：从紫外到远红外

　　♦　NIST可溯源标准

　　♦　快速和便携式使用

产地：美国SOC

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