我们的布鲁斯特角样品架允许使用透射光谱法在不同角度测量薄膜。这些测量用于从产生的干涉条纹中提取薄膜厚度和折射率数据。

布儒斯特角样品架还消除了通常遮蔽弱吸收带的干涉条纹。当与偏振器一起使用且位于布鲁斯特角时，p-偏振光通过反射*小的表面传输。

特征

以布鲁斯特角或FT-IR或UV-VIS光谱仪所需的任何其他角度安装薄膜。

精确设置和读取入射角的刻度盘。

可选安装在紫外可见光谱仪上。

与Harrick Scientific的高效线栅偏振器和Glan Taylor偏振器兼容。

包括

布鲁斯特角样品架。

一个样品支架。

滑板安装。